激光原位分析儀

    將激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析技術(shù)（LIBS）和原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)（OPA）*結(jié)合的，為材料成分分析，缺陷分析，涂鍍層等樣品的分析應(yīng)用提供了新的技術(shù)手段及質(zhì)量判據(jù)。可用于航空航天、汽車(chē)、高鐵、冶金、科研院所、質(zhì)檢中心等

儀器特點(diǎn):

⊙ 多元素同時(shí)分析。28 個(gè)元素通道，包含 C，P，S 元素，

線性關(guān)系良好。

⊙ 預(yù)剝蝕時(shí)間，積分時(shí)間，門(mén)控延遲時(shí)間動(dòng)態(tài)可調(diào)。

⊙ 分析簡(jiǎn)便、快速，無(wú)前處理過(guò)程，避免樣品被污染。

⊙ 分析不受樣品尺寸，狀態(tài)，導(dǎo)電性，難熔與否的影響。

⊙ LIBS 具有高靈敏度與高空間分辨率，非常適合涂層材料、

薄膜材料分析。

⊙ 微小燒蝕光斑可進(jìn)行局部微區(qū)分析，表面微損分析，適合材料

缺陷分析。

⊙ 非接觸測(cè)量，響應(yīng)迅速，分析時(shí)間短，可滿(mǎn)足實(shí)時(shí)分析以及在

線分析的要求。

激光原位分析儀

儀器參數(shù):

激光光源

⊙ Continuum SureliteTM III － 10 YAG 激光器

真空光學(xué)系統(tǒng)

⊙ 帕邢—龍格架法，光柵焦距 750 mm

⊙ 高發(fā)光全息光柵，刻線為 2400 條 /mm

⊙ 譜線范圍：170 ~ 800 nm

⊙ 色散率：一級(jí)色散率：0.55 nm/mm

二級(jí)色散率：0.275 nm/mm

⊙ 分辨率：優(yōu)于 0.01 nm

檢測(cè)系統(tǒng)

⊙ 光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)

⊙ 瞬態(tài)信號(hào)前端處理電路

⊙ 數(shù)字信號(hào)采集識(shí)別和解析系統(tǒng)

⊙ 多線程的數(shù)據(jù)采集方式

⊙ 樣品掃描定位系統(tǒng)

⊙ 三維工作臺(tái)

⊙ CCD 成像系統(tǒng)：聯(lián)合數(shù)控工作臺(tái)實(shí)現(xiàn)樣品的定位和觀察

⊙電源要求：220V/20A

⊙外形尺寸：1500 mm×750 mm×1600 mm（寬 × 深 × 高）

⊙重 量：毛重約 700 Kg